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  說明:購買設(shè)備前,請先咨詢客服有沒有現(xiàn)貨深圳市天創(chuàng)美科技有限公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(jì)(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質(zhì)譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質(zhì)譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠...

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合金檢測儀常見故障的科學(xué)應(yīng)對方法分享

合金檢測儀能在數(shù)秒內(nèi)無損分析金屬成分,精準(zhǔn)識別合金牌號。其便攜高效的特點(diǎn)使其成為現(xiàn)場檢測的利器。然而,在復(fù)雜工況下,合金檢測儀可能會出現(xiàn)檢測結(jié)果漂移、讀數(shù)異常、...

  • 鋼材成分檢測儀能夠快速、無損地測定鋼中碳、鉻、鎳、鉬、錳、釩等合金元素的含量,為材料牌號判定、質(zhì)量控制與工藝優(yōu)化提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。鋼材成分檢測儀高效精準(zhǔn)的檢測能力,源于多個(gè)精密部件的協(xié)同運(yùn)作,共同構(gòu)建起一套完整的“元素識別系統(tǒng)”。1、X射線管X射線管產(chǎn)生高能射線,照射樣品表面。當(dāng)X射線與鋼材原子相互作用時(shí),激發(fā)內(nèi)層電子躍遷,釋放出具有元素特征的二次X射線(即熒光X射線)。其穩(wěn)定性與功率直接影響檢測靈敏度與速度。2、探測器探測器負(fù)責(zé)接收樣品發(fā)出的熒光X射線,并將其轉(zhuǎn)化為電信號。...
  • 在現(xiàn)代科學(xué)研究、工業(yè)生產(chǎn)及環(huán)境保護(hù)中,元素含量檢測儀作為分析物質(zhì)組成的關(guān)鍵工具,發(fā)揮著重要作用。它能夠精確測定樣品中的各種元素含量,為質(zhì)量控制、新材料開發(fā)及環(huán)境監(jiān)測提供可靠的數(shù)據(jù)支持。其核心在于通過不同的物理或化學(xué)手段激發(fā)樣品中的原子或分子,使其發(fā)出固定波長的光譜信號,再根據(jù)這些信號的強(qiáng)度和特征來確定元素種類及其含量。以下是幾種常見的檢測原理:1、X射線熒光(XRF)利用高能X射線照射樣品,使樣品中原子內(nèi)層電子被激發(fā),當(dāng)外層電子躍遷填補(bǔ)空位時(shí)釋放出特征X射線,通過分析這些X射...
  • 元素含量檢測儀能夠快速準(zhǔn)確地測定樣品中的元素種類及其含量,為產(chǎn)品質(zhì)量控制、環(huán)境保護(hù)及新材料研發(fā)提供了強(qiáng)有力的支持。然而,為了確保測量結(jié)果的精確性和可靠性,掌握正確的使用方法至關(guān)重要。本文將詳細(xì)介紹元素含量檢測儀的正確使用步驟及其注意事項(xiàng)。一、樣品制備與處理1、取樣根據(jù)待測樣品的具體情況選擇合適的取樣方法。對于固體樣品,可能需要先進(jìn)行粉碎或研磨處理;液體樣品則應(yīng)充分混勻后取樣。確保樣品具有代表性,避免局部偏差影響結(jié)果。必要時(shí)可采用多點(diǎn)取樣并混合均勻的方式。2、樣品處理按照說明書...

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ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀與X熒光光譜儀比較的優(yōu)勢有哪些

ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES)與X熒光光譜儀(XRF)在元素分析領(lǐng)域各有優(yōu)勢,但I(xiàn)CP-OES在靈敏度、多元素同步分析能力、基體效應(yīng)控制、線性范圍及自動化程度等方面展現(xiàn)出顯著優(yōu)勢,尤其適用于高精度、痕量及復(fù)雜基體樣品的分析需求。以下是具體比較:1.靈敏度與檢出限ICP-OES:采用高溫等離子體激發(fā)樣品,能夠?qū)崿F(xiàn)亞ppb(十億分之一)級別的痕量元素檢測,靈敏度高。例如,鎳元素檢出限可達(dá)4.3μg/L,錳元素為1.4μg/L,適用于環(huán)境監(jiān)測、水質(zhì)分析等對低含量...

  • X射線鍍層測厚儀通過熒光激發(fā)與信號分析實(shí)現(xiàn)非接觸式厚度測量,其核心原理可分為熒光激發(fā)、信號捕獲、元素分離及厚度計(jì)算四個(gè)關(guān)鍵環(huán)節(jié):熒光激發(fā)儀器搭載微型X射線管(如鎢靶或鉬靶),發(fā)射能量可調(diào)的高能X射線束。當(dāng)射線穿透鍍層時(shí),原子內(nèi)層電子(如K層)被擊出形成空穴,外層電子(如L層)躍遷填補(bǔ)時(shí)釋放特征X射線熒光。例如,鎳鍍層在激發(fā)下會釋放8.26keV的特征熒光,其能量與原子序數(shù)嚴(yán)格對應(yīng),成為元素識別的“指紋”。信號捕獲鍍層與基底元素不同時(shí),二者熒光能量存在差異。儀器通過高分辨率硅漂...
  • 金屬成分測試儀廣泛應(yīng)用于合金鑒別、廢舊金屬分揀、質(zhì)量控制等領(lǐng)域,其快速、無損的檢測能力大大提升了工作效率。然而,在復(fù)雜多變的現(xiàn)場環(huán)境中,儀器常出現(xiàn)檢測不準(zhǔn)、響應(yīng)遲緩等問題。掌握金屬成分測試儀常見失靈現(xiàn)象的應(yīng)對策略,是確保數(shù)據(jù)可靠的關(guān)鍵。問題一:檢測結(jié)果偏差大或重復(fù)性差這是常見的困擾。主要原因是樣品表面狀態(tài)不佳。油污、油漆、氧化層、鍍層或粗糙表面會嚴(yán)重干擾信號。解決方法:務(wù)必清潔待測面至露出金屬本體,使用砂紙、打磨頭或去污劑處理,并保持表面平整。其次,檢查測量模式是否正確,如合...
  • X射線熒光(XRF)技術(shù)作為無損、快速、精準(zhǔn)的鍍層測量方法,已被廣泛應(yīng)用于制造業(yè)質(zhì)量控制。然而,在實(shí)際應(yīng)用中,諸多復(fù)雜因素為其測量帶來了挑戰(zhàn)。本文將探討主要技術(shù)挑戰(zhàn)及其相應(yīng)的解決方案。挑戰(zhàn)一:復(fù)雜基體與多元合金鍍層傳統(tǒng)XRF測量依賴于已知的基材和鍍層成分。當(dāng)遇到多元合金鍍層(如Zn-Ni、Sn-Cu)或未知復(fù)雜基體時(shí),元素間的相互干擾(吸收-增強(qiáng)效應(yīng))會顯著影響測量精度,導(dǎo)致厚度和成分結(jié)果失真。解決方案:現(xiàn)代高性能臺式XRF測厚儀采用基本參數(shù)法(FP法)結(jié)合先進(jìn)算法。無需依賴...

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